TY - JOUR T1 - Structural and luminescence imaging and characterisation of semiconductors in the scanning electron microscope JO - Semiconductor Science and Technology UR - http://eprints.whiterose.ac.uk/157595/ PY - 2020/02/12 AU - Trager-Cowan C AU - Alasmari A AU - Avis W AU - Bruckbauer J AU - Edwards PR AU - Ferenczi G AU - Hourahine B AU - Kotzai A AU - Kraeusel S AU - Kusch G AU - Martin RW et al ED - DO - DOI: 10.1088/1361-6641/ab75a5 PB - IOP Publishing Y2 - 2025/07/30 ER -