TY - JOUR T1 - Excess noise characteristics of thin AlAsSb APDs JO - IEEE Transactions on Electron Devices PY - 2012/01/01 AU - Xie J AU - Xie S AU - Tozer RC AU - Tan CH ED - DO - DOI: 10.1109/TED.2012.2187211 VL - 59 IS - 5 SP - 1475 EP - 1479 Y2 - 2025/08/13 ER -